دورة تدريبية حول كيفية الاستفادة من تحليلات جهاز حيود الاشعة السينية لدراسة التركيب البلوري للمواد الصلبة

Print Friendly, PDF & Email

نظم قسم علوم الفيزياء في كلية التربية للعلوم الصرفة (ابن الهيثم) دورة تدريبية حول كيفية الاستفادة من تحليلات جهاز حيود الاشعة السينية لدراسة التركيب البلوري للمواد الصلبة حاضر فيها تدريسيوا القسم (أ.د. كريم علي جاسم و م.د. شذى هاشم مهدي و م.م. رحاب نصر فاضل على قاعة المرحوم الاستاذ سالم عبد الحميد .

واستهلت الدورة بالتعريف بالطيف الكهرومغناطيسي واليات تفاعل الاشعاع الكهرومغناطيسي مع المادة ونواتج هذه التفاعلات .

فيما بعد تم عرض لالية عمل جهاز حيود الاشعة السينية ومكوناته و المبدأ الفيزيائي لعمله اضافة الى عرض صور التحليل الطيفي للمواد باستخدام جهاز التحليل بحيود الاشعة السينية.

ومن ثم تم بيان الية تحليل نتائج الطيف الناتج من الجهاز من تحليل العناصر واهم العناصر التي يقوم الجهاز بالكشف عنها وقياسها وكيفية حساب تراكيزها وكتلها وكيفية تحديد البناء البلوري للمركب الذي قيد التحليل اعتمادا على هذه البيانات  .

كما قام المحاضرون بعرض الجوانب النظرية والقوانين الرياضية المستخدمة في عملية التحليل و اهم البرامج المستخدمة في تحليل البيانات.


A training course on how to use X-ray diffraction analysis to study the crystalline structure of solids

The department of physics in college of education for pure science (Ibn Al-Haitham) holds a training course on how to use X-ray diffraction analysis to study the crystalline structure of solids by prof.Dr.Kareem Ali Jasim,lect.Dr.Shatha Hashim Mahdi and Asst.lect.Rihab Nasir Fadhil at the hall of the late pro.Dr.Salim Abdulhameed

The course identified the electromagnetic spectrum and the mechanisms of electromagnetic radiation interaction with the material and the products of these reactions. The mechanism of X-ray diffraction and its components and the physical principle of its work was presented in addition to displaying images of the spectral analysis of the materials using X-ray analysis. The mechanism of analysis of the results of the spectrum produced by the device was analyzed by analyzing the elements, the most important elements that the device detects ,measured , how to calculate their concentrations and how to determine the crystalline structure of the compound which is under analysis based on this data. The lecturers also presented the theoretical aspects and mathematical laws used in the analysis process and the most important programs used in data analysis