ناقش قسم الفيزياء في كلية التربية للعلوم الصرفة (ابن الهيثم) رسالة الماجستير الموسومة (دراسة الخصائص التركيبية والبصرية لغشاء ثاني أوكسيد القصدير الرقيق وتحليلها باستخدام تقنية المعالجة الصورية) للطالبة ( نور علي حميد ) التي انجزت باشراف التدريسية في القسم (م.د. أنبثاق محمد علي).
ويهدف البحث الى استخدام تقنيات المعالجة الصورية في دراسة الخصائص التركيبية و البصرية للاغشية الرقيقة .
حيث تم في في هذا البحث تحضير اغشية (SnO2) الرقيقة غير المشوبة بطريقة التبخير الحراري بالفراغ، حيث تم ترسيب هذه الأغشية على ارضيات زجاجية ذات سمك مختلف (nm 600، 525, 450).
كما تم اجراء دراسة طوبوغرافية وطبيعة السطح للأغشية المحضرة باستخدام المجهر الإلكتروني الماسح SEM ومجهر القوة الذري AFM. أظهرت الدراسة أن التركيب السطحي للأغشية المرسبة كانت نانوية، ويتراوح قيمة الحجم الحبيبي nm (60-71) , من ناحية أخرى ، وجد أن خشونة السطح تزداد nm (1.9 – 0.9) مع زيادة السمك ، ويتضمن الوصف العام دراسة طبوغرافيا السطح (حجم الحبيبات والخشونة) باستخدام صور AFM واستكشاف العلاقة مع مجموعة من معلمات الخشونة التي تم الحصول عليها من صور ,SEM وهذه المعلمات ,Sa) ,Sq ,Sp ,Sv Sz) تعطي معلومات عن ارتفاع السطح.اما المعلمات Ssk) , Sku) فتعطي معلومات حول توزيع الاتساعات وتناظر ارتفاعات السطح حول المستوى المتوسط.
وأظهرت نتائج حيود الأشعة السينية (XRD) لجميع الأغشية المحضرة انها ذات تركيب متعدد التبلور نوع معيني قائم وان الاتجاه السائد (111) ,وتناقص قيم عرض المنحني عند منتصف القمة (FWHM) لأغشية ثنائي أوكسيد القصدير بزيادة السمك .
أوضحت الخصائص البصرية المتمثلة بدراسة طيفي النفاذية والامتصاصية بصفتهما دالة للطول الموجي ضمن المدى) nm(1100- 300) ان النفاذية تقل عند زيادة سمك الغشاء. أما فجوة الطاقة البصرية للأنتقال المباشر المسموح فقد لاحظنا نقصان قيم فجوة الطاقة من eV 2.2)-3)مع زيادة السمك.
Department of Physics discussed M.Sc. thesis on Studying optical and Synthetic Properties for thin tin oxide film using photo therapy
The department of Physics in college of education for pure science (Ibn Al-Haitham) discussed M. Sc .thesis on Studying optical and Synthetic Properties for thin tin oxide film using phototherapy by Noor Ali Hameed supervised by lect.Dr.Inbithaq Mohammed Ali
Abstract
In this research, undoped SnO2 films were prepared by thermal vacuum evaporation method, in which the films were deposited on glass substrates with different thicknesses [450,525 and 600] nm
The surface morphology and topography of the prepared films was studied using the Scanning electron microscopy (SEM) and the Atomic force microscopy (AFM).The study showed that the surface structure of the deposited films was nano structures with grain size of (60-71) nm. It was found that the surface roughness increased with changing thickness from (0.9 –1.9) nm. General characterization includes study surface topography (grain size and roughness) using AFM images and explores the relationship with an advanced set of roughness parameters obtained from the SEM images, these averaging amplitude parameters Sa, Sq and extreme amplitude parameters Sp, Sv and Szexplain of surface profile the height. The parameters Ssk and Skurefer to the distribution of the amplitudes and the symmetry of the surface heights about the mean plane
Results showed that all thin films prepared by X-ray, with the dominance orientation (111), it was found that the prepared SnO2 films were of polycrystalline structure of an orthorhombic type and full width at half maximum values peaks (FWHM) of these films decreased with increasing thickness
The optical properties including the measuring of absorbance and transmittance spectra as a function of wavelength in the range (300-1100) nm for all samples, the transmission decreased with increment of thickness. The energy band gap for direct transition decreased from (3) to (2.2) eV, values with increasing thicknesses
